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根據工作原理，高溫紅外分析儀有哪些劃分呢？
點擊次數：2091 發布時間：2021-01-19
關于高溫紅外分析儀工作原理，從使用的檢測器類型來劃分。氣體分析器中使用的檢測器，目前主要有薄膜電容檢測器、微流量檢測器、光電導檢測器、熱釋電檢測器四種。根據結構和工作原理上的差別，我們可以將其分成兩類，前兩種屬于氣動檢測器，后兩種屬于固體檢遇器。
氣動檢測器靠氣動壓力差工作，薄膜電容檢測器中的薄膜振動靠這種壓力差驅動，微流量檢測器中的流量波動也是由這種壓力差引起的。這種壓力差來源于紅外輻射的能量差，而這種能量差是由測量光路和參比光路形成的，所以氣動檢測器一般和雙光路系統配合使用。
不分光紅外(NDIR)源自氣動檢測器內密封的氣體和待測氣體相同(通常是待測氣體和氬氣的混合氣)，所以光源光譜的連續輻射到達檢測器后，它只對待測氣體特征吸收波長的光譜有靈敏度，不需要分光就能得到很好的選擇性。
由上所述可以看出，這兩類檢測器的工作原理不同，配用的光路系統結構不同，從是否需要分光的角度來看，兩者也是不同的。因此，可以由此出發，將高溫紅外分析儀劃分為兩類：采用氣動檢測器的不分光型紅外分析器和采用固體檢測器的固定分光型紅外分析器。
高溫紅外分析儀在使用中應當要注意這樣事情，才能更好地使用。
1、為防止儀器受潮而影響使用壽命,紅外實驗室應保持干燥（相對濕度應在65%以下）。
2、樣品的研磨要在紅外燈下進行,防止樣品吸水。
3、壓片用的模具用后應立即把各部分擦干凈，必要時用水清洗干凈并擦干,置干燥器中保存以免銹蝕。
4、采樣器使用過程中必須注意以下幾點：
?、贅悠放cGe晶體間必須緊密接觸,不留縫隙.否則紅外光射到空氣層就發生衰減全反射,不進入樣品層；
②對于熱、燙、冰冷、強腐蝕性的樣品不能直接置于晶體上進行測定,以免Ge晶體裂痕和腐蝕；
?、奂?、硬且表面粗糙的樣品不適合用采樣器采樣,因為這些樣品極易刮傷晶片,甚至使其碎裂。
